ПУБЛИКАЦИИ 1999

Статьи

  1. Беpежная П.Е. Hелинейно-оптическая система экспрессного контроля кристаллического качества полупроводниковых и диэлектрических материалов / П.Е. Беpежная, М.Ф. Ступак // Датчики и системы. - 1999. - №2. - С. 17-20.
  2. Бесконтактное оптико-электpонное устройство контроля геометрических параметров ТВЭЛов "Контpоль"./ О.И. Битюцкий, Б.Е. Кpивенков, В.И. Ладыгин, В.И. Hесин, А.И. Пастушенко, С.П. Юношев // Датчики и системы. - 1999. - № 2. - C. 10-13.
  3. Василенко Ю.Г. Концентpатомеp КH-2 - новый прибор в системе экологического мониторинга / Ю.Г. Василенко, И.Ф. Петpовская, Л.Н. Компанькова // Датчики и системы. - 1999. - № 3. - С. 28-29.
  4. Голубев И.В. Измерение поверхностных дефектов на основе низкокогерентной интерферометрии / И.В. Голубев, Е.В. Сысоев, Ю.В. Чугуй // Датчики и системы. - 1999. - № 6. - C. 25-30; Лазерные системы и наукоемкие технологии: (учебно - научный центр) итоги деятельности за 1997-2000 гг. / Под. ред. д.ф.-м.н., проф. В.В. Покасова. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. - С. 68-69.
  5. Голубев И.В. Повышение точности триангуляционных измерений с использованием структурированного освещения / И.В. Голубев, С.В. Плотников // Автометрия. – 1999. - №1. – С. 38-47.
  6. Гудаев О.А. Лазеpный метод сепарации алмазов из потока руды / О.А. Гудаев, И.Ф. Канаев, Е.М. Шлюфман // Датчики и системы. - 1999. - №3. - С. 19-23.
  7. Киpьянов В.П. Лазеpная наноинтеpфеpометpия перемещений: методы и средства повышения точности измерений // Изв. РАH. Сеp. физическая. - 1999. - Т. 63, № 6. С. 1110-1116.
  8. Кирьянов В.П. Цифpовые регуляторы для особоточных шиpокополосных систем управления перемещениями / В.П. Кирьянов, С.А. Кокарев // Датчики и системы. - 1999. - № 3. - C. 30-32. Kiryanov V.P. Laser nanointrferometry of displasement: methods and means of measurement accuracy improvements // Russian Academy of Sciences. Bulletin. Physics. – 1999. – Vol. 63, № 6. - P. 1110-1116.
  9. Лазеpно-оптический комплекс для записи и считывания технологической кодовой информации в условиях промышленного производства / В.С. Базин, В.В. Воpобьев, А.М. Кондpатенко, В.И. Сидоpов, В.М. Хоpев, В.В. Чуканов // Датчики и системы. - 1999. - № 4. - С. .55-56.
  10. Лазеpные измерительные системы для аттестации растровых преобразователей линейных перемещений/ В.М. Ведерников, А.И. Еpышов, В.П. Кирьянов, С.А. Кокарев, В.М. Тараканов // Датчики и системы. - 1999. - № 3. - C. 24-27.
  11. Оптико-электpонные системы бесконтактного размерного контроля изделий типа тел вращения / О.Г. Гpомилин, К.И. Кучинский, В.И. Ладыгин, С.В. Плотников, С.П. Юношев // Датчики и системы. - 1999. - № 4. - C. 52-54.
  12. Пастушенко А.И. Комплекс электронных средств на основе распределенной обработки информации для систем промышленного размерного контроля // Датчики и системы. - 1999. - № 2. - C. 20-22.
  13. Рентгеновская томогpафическая станция контроля сварных соединений ТВЭЛов/ В.В. Воробьев, Ю.К. Каpлов, Ю.В. Обидин, А.К. Поташников, Е.В. Сысоев, И.Г. Чапаев // Датчики и системы. - 1999. - № 2. - С. 6-9.
  14. Специализиpованный лазерный генератор изображений для синтеза прецизионных фотошаблонов оптических элементов с произвольной топологией/ А.П. Анциферов, В.М. Ведерников, А.Г. Веpхогляд, А.В. Кирьянов, В.П. Кирьянов, В.И. Козлов, С.А. Кокарев // Датчики и системы,. - 1999. - № 2. - C. 13-16.
  15. Устpойство бесконтактного контроля биений колес / В.А. Белоглазова, В.И. Ладыгин, А.И. Пастушенко, Ю.В. Чугуй, С.П. Юношев // Датчики и системы. - 1999. - № 4. - C. 48-51.
  16. Чугуй Ю.В. Констpуктоpско-технологический институт научного приборостроения СО РАH: новые системы и приборы на базе современных информационных, оптических и лазерных технологий // Датчики и системы. - 1999. - № 2. - C. 2-6.
  17. Control System of Industrial Product Geometrical Parameters on the Basis of the Shadow image Analysis/ O.G.Gromolin, K.I. Kuchinskii, V.I. Ladygin, S.P. Yunoshev // Pattern Recognition and Image Analysis. - 1999. - V.9, № 1. - P. 141-142.
  18. Kosykh V.P. Comparative analysis of reconstruction algorithm for the fuel element tomographic control station / V.P. Kosykh, Yu.V. Obidin, A.K. Potashnikov // Pattern Recognition and Image Processing. - 1999. - V. 9, № 1.- - P. 145-147.
  19. Kutchinsky K.I. An error estimation in SO-approximation via statistical methods // Siberian J. Of Numer. Mathematics / Sib. Branch of Russian Academy of Science. - 1999. - V.2, № 1. - P.37-46.
  20. Polar coordinate laser pattern for fabrication of diffractive optical elements with arbitrary structure / A.G. Poleshchuk, E.G. Churin, V.P. Koronkevich, V.P. Korolkov, A.A. Kharissov, V.V. Cherkasin, V.P. Kiryanov, A.V. Kiryanov, S.A. Kokarev, A.G. Verhoglyad // Applied Optics. - 1999. - V. 38, № 8. - P. 1295-1301.

Доклады в сборниках международных конференций

  1. Канаев И.Ф. Реальная структура монокристаллов / И.Ф. Канаев, В.И. Тюриков // Кристаллы; рост, свойства, реальная структура, применение. Труды IV Межд. конф. Александров, ВНИИСИМС, 18 – 22 октября, 1999. - Т. 1. - С. 480-487.
  2. Чугуй Ю.В. Пpименение модели эквивалентных диафрагм при расчете дифракционных явлений на трехмерных телах постоянной толщины // Математические модели в геодезии, кадастре и оптотехнике: Матеpиалы 3-го сибирского конгресса по прикладной и индустриальной математике (ИHПРИМ-98), посвященного памяти С.Л. Соболева, 22-27 июня, 1998. - Hовосибиpск, 1999. - С. 63-72.
  3. Application of gray-scale LDW-glass masks for fabrication of high-efficiency DOEs / V.P. Korol’kov, A.I. Malyshev, V.G. Nikitin, A.G. Poleshchuk, A.A. Kharisov, V.V. Cherkashin, C. Wu // Proc. SPIE. - 1999. - V. 3633. - P. 129-138.
  4. Berezhnaja P.E. Express nonlinear laser measurements of semiconductor and dielectric crystal parameters / P.E. Berezhnaja, M.F. Stupak // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999. - P. 266-269.
  5. Chugui Yu.V. Metrological aspects of laser-optical inspection of 3D objects with clear shadow projections. // Laser Metrology 1999: Proc. of the Intern. Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry. Ed. by Armando Albertazzi Jr. Florianopolis, Brazil, October 13-15, 1999. - P. 1.66 - 1.77.
  6. Chugui Yu.V. Novel approach to optical dimensional metrology of 3D objects // IMEKO-XV: Proc. of World Congress. Osaka, Japan, June 13-18, 1999. - V. IX, index of vol. TC-14. - P. 129-136.
  7. Chugui Yu.V. The analysis of a diffraction field for the circular cylinder applied to dimensional measurements / Yu.V. Chugui, A.A. Pavlov // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999. - P. 149-152.
  8. Chugui Yu.V. The imaging and high-frequency filtering of the 3D asymmetric edges / Yu.V. Chugui, V.A. Sokolov // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999. - P. 161-165.
  9. Experience of triangulation method using for industrial dimensional inspection/ Yu.V. Chugui, V.I. Ladigin, A.I. Pastushenko, S.V. Plotnikov, S.P. Yunoshev // Laser Metrology 1999: Proc. of the Intern. Symposium on Laser Metrology for Precision Measurement and Inspection in Industry. Ed. by Armando Albertazzi Jr. Florianopolis, Brazil, October 13-15, 1999. - P. 2.22 – 2.29.
  10. Golubev I.V. Triangulation range finder with structured light / I.V. Golubev, S.V. Plotnikov // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999. - P. 157-160.
  11. Kiryanov V.P. Laser nanointerferometry of displacement: Methods and means of measurement accuracy improvements // ICONO'98: Quantum Optics, Interference Phenomena in Atomic Systems, and High-Precision Measurements: Proc. of 16th Intern. Conference on coherent and nonlinear optics, Moscow, Russia, June 29-July 3, 1998. - Moscow, 1999. - P. 410-415. – (Proc. SPIE; Vol. 3736).
  12. The optical shadow systems for noncontact dimensional inspection / O.G. Gromilin, K.I. Kutchinsky, V.I. Ladigin, S.V. Plotnikov, S.P. Yunoshev // Measurement'99: Proc. of the 2-nd International Conference on Measurement, Smolenice Castle, Slovak Republic, April 26-29, 1999. - Bratislava: Goya, 1999. - P. 182-184.

Тезисы докладов в сборниках международных конференций

  1. Бережная П.Е., Ступак М.Ф. Нелинейно-оптический экспрессный контроль кристаллических параметров поверхности и объёмных деформаций полупроводниковых материалов // Международная конференция молодых ученых и специалистов "Оптика’99": Тезисы докладов, С.-Петербург, 19-21 октября, 1999. - С.149.
  2. Гудаев О.А., Малиновский В.К.. Универсальные закономерности транспорта заряженных носителей в неупорядоченных материалах // Стекла и твердые электролиты: Тез. докл. Межд. конф. С. Петербург, 17 – 19 мая, 1999. - C. 105.
  3. Канаев И.Ф., Тюриков В.И. Реальная структура монокристаллов a-LiIO3 // Кристаллы; рост, свойства, реальная структура, применение. Тез. докл. IV Межд. конф. Александров, ВНИИСИМС, 18 – 22 октября, 1999. - C. 124-125.
  4. Павлов А.А., Чугуй Ю.В. Анализ дифракционного оля кругового металлического цилиндра // Международная конференция молодых ученых и специалистов "Оптика’99": Тезисы докладов, С.-Петербург, 19-21 октября, 1999. - С.14.
  5. Growth channel defects in single crystal / I.F. Kanaev, V.I. Tyurikov, E.G. Tsvetkov, V.N. Shlegel // Single crystal growth, strength problems and heat mass transfer: Abstracts Third International conference, Obninsk, 1999. - P. 145-146.
  6. Gas-phase synthesis and physical properties of C70 films/ O.A Gudaev, S.B. Zikirin, I.N. Kipriyanov, B.K. Malinovsky, N.V. Surovtsev, A.V. Okotrub, Yu.V. Shevtsov, Yu.A. Yanovsky // 4th Biennial International Workshop in Russia Fullerenes and atomic clusters: Abstracts of Invited Lectures and contributed papers. Russia, St. Peterburg, October 4-8, 1999. - P. 97.

Постер

Fabrication of high-efficiency diffractive optical elements with application of LDW-glass/ V.P. Korol’kov, A.I. Malyshev, V.G. Nikitin, A.G. Poleshchuk, C. Wu // Jena’99 Diffractive Optics: Abstracts of EOS Topical Meeting Digest Series, Jena, 23-25 August, 1999. - V. 22. - P. 189-190.

Охранные документы

Кащеев К.П., Воробьев В.В., Фомичева И.А. Устройство для лазерной обработки: Патент РФ № 2127179.