ПУБЛИКАЦИИ 2000

Авторефераты

Плотников С.В. Разработка и исследование лазерных триангуляционных приборов для промышленного размерного контроля: Автореф. дис. … канд. техн. наук: 05.11.07. - Новосибирск, 2000. - 18 с.: ил. Препринты Кучинский К.И. SP-приближения на хаотических сетках: Препринт № 1151 ИВМиМГ СО РАН. - Новосибирск, 2000. - 8 с.

Статьи

  1. Никитин В.Г., Кулешова И.А., Подчернин В.М. Анализ конкуренции на рынке ДОЭ // Лазер-Информ. 2000, №9. С. 6-12.
  2. Кучинский К.И. Бесконтактные оптико-электронные системы размерного контроля / К.И. Кучинский, С.В. Плотников, С.П. Юношев // Лазерные системы и наукоемкие технологии: (учебно - научный центр) итоги деятельности за 1997-2000 гг. / Под. ред. д.ф.-м.н., проф. В.В. Покасова. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. - С. 58-59.
  3. Воробьев В.В. Компьютерная томография в задачах обнаружения и измерения мелких дефектов изделий типа тел вращения / В.В. Воробьев, Ю.В. Обидин, А.К. Поташников // Лазерные системы и наукоемкие технологии: (учебно - научный центр) итоги деятельности за 1997-2000 гг. / Под. ред. д.ф.-м.н., проф. В.В. Покасова. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. - С. 60-61.
  4. Использование триангуляционного метода измерений в задача промышленного размерного контроля / В.И. Ладыгин, А.И. Пастушенко, С.В. Плотников, Ю.В. Чугуй, С.П. Юношев // Лазерные системы и наукоемкие технологии: (учебно - научный центр) итоги деятельности за 1997-2000 гг. / Под. ред. д.ф.-м.н., проф. В.В. Покасова. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. - С. 62-65.
  5. Бережная П.Е. Система экспрессного контроля кристаллического качества полупроводниковых и диэлектрических материалов / П.Е. Бережная, М.Ф. Ступак // Лазерные системы и наукоемкие технологии: (учебно - научный центр) итоги деятельности за 1997-2000 гг. / Под. ред. д.ф.-м.н., проф. В.В. Покасова. - Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000. - С. 66-67.

Доклады в сборниках международных конференций

  1. Бережная П.Е. Ступак М.Ф. Использование эффекта ГВГ для экспрессного локального контроля кристаллического качества полупроводниковых и диэлектрических материалов // Актуальные проблемы электронного приборостроения-2000: Труды V международной конференции. Новосибирск, 2000. - Т.2.- С.204-209.
  2. Компьютерный стенд для проверки параметров микроблока питания / Н.С. Лебедев, Н.В. Василец, В.И. Красовский, А.В. Куркин, Ю.В. Обидин, А.Н. Попов, В.М. Тараканов// Информационные системы и технологии. ИСТ'2000: Материалы международной н.-техн. конф. Новосибирск, 8-11 октября, 2000. - Новосибирск, 2000. - Т.1. - С 117-120.
  3. Chugui Yu.V. Fourier-optics of 3D objects applied to dimensional inspection // // Mechatronics 2000: Proc. of International Conference. Warsaw, September 21-23, 2000. - Vol. 2. - Warsaw: Meander S.C., 2000. - P 485-490.
  4. Chugui Yu.V. Peculiarities of cylinder diameter determination by diffraction / Yu.V. Chugui, A.A. Pavlov // IMEKO 2000: Proceedings of XVI IMEKO World Congress / Ed.: M.N. Durakbasa, P.H. Osanna, A. Afjehi-Sadat. - Vol. II: Topic 1 - Education and Training in measurement and Instrumentation, Topic 2 - Photonic Measurements, Topic 20 - Micro and Nano Technology. Vienna, Austria, Sept.25-28, 2000. - Vienna, 2000. - P.169-174.
  5. Golubev I.V. Low-coherent interferometry defects measurements / I.V. Golubev, Eu.V. Sysoev, Yu.V. Chugui // IMEKO 2000: Proceedings of XVI IMEKO World Congress / Ed.: M.N. Durakbasa, P.H. Osanna, A. Afjehi-Sadat. - Vol. II: Topic 1 - Education and Training in measurement and Instrumentation, Topic 2 - Photonic Measurements, Topic 20 - Micro and Nano Technology. Vienna, Austria, Sept.25-28, 2000. - Vienna, 2000. - P.189-194.
  6. Kutchinsky K.I. Flexible technology for the development of smart systems for article geometrical parameters inspection / K.I. Kutchinsky, S.V. Plotnikov, S.P. Yunoshev // Mechatronics 2000: Proc. of International Conference. Warsaw, September 21-23, 2000. - Vol. 2. - Warsaw: Meander S.C., 2000. - P 412-414.
  7. Kutchinsky K.I. Smart and flexible dimensional inspection / K.I. Kutchinsky, S.V. Plotnikov, S.P. Yunoshev // IMEKO 2000: Proceedings of XVI IMEKO World Congress Management / Ed.: M.N. Durakbasa, P.H. Osanna, A. Afjehi-Sadat. - Vol. VIII: Topic 14 - Measurement of Geometrical quantities, Topic 25 - Quality Management. Vienna, Austria, Sept.25-28, 2000. - Vienna, 2000. -P.161-164.

Тезисы доклада в сборнике международной конференции

Kiryanov V.P. Scanning method development of DOE?s inspection / V.P. Kiryanov, V.G. Nikitin, A.G. Verkhogliad // Optic of lasers – 2: Thesis of X Conference (Sanct-Petersburg, 2000).