НАЗНАЧЕНИЕ
Комплекс предназначен для характеризации параметров отоэлектрических устройств, обработки и анализа результатов измерений. Может применяться в оптико-электронных производствах, научных лабораториях, учебных заведениях и отделах технического контроля
Комплекс предназначен для характеризации параметров отоэлектрических устройств, обработки и анализа результатов измерений. Может применяться в оптико-электронных производствах, научных лабораториях, учебных заведениях и отделах технического контроля
ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ
• Измерение параметров опто-электрических параметров лазерных диодов,
светодиодов, pin- и лавинных фотоприемников, характеризация оптических
щумов, параметры модуляции
• Характеризация матричных фотоприемных устройств
• Измерение параметров оптического усилителя EDFA Erbium на длинах волн
стабилизированного оптического излучателя
• Мониторинг и измерение оптических шумовых параметров ФЭУ до и после
испытаний на радиационной, термовакуумной и термической установках по
имитации космической среды
• Измерение параметров опто-электрических параметров лазерных диодов,
светодиодов, pin- и лавинных фотоприемников, характеризация оптических
щумов, параметры модуляции
• Характеризация матричных фотоприемных устройств
• Измерение параметров оптического усилителя EDFA Erbium на длинах волн
стабилизированного оптического излучателя
• Мониторинг и измерение оптических шумовых параметров ФЭУ до и после
испытаний на радиационной, термовакуумной и термической установках по
имитации космической среды
СОСТАВ КОМПЛЕКСА
• Спектроанализатор оптического излучения видимого диапазона
• Спектроанализатор оптического излучения ИК диапазона
• Система для измерения мощности импульсного и непрерывного оптического излучения
• Измеритель профиля пучка
• Измеритель светового потока
• Цифровой измеритель используемый для анализа электрических характеристик оптоэлектронных
устройств
• Стабилизированный оптический излучатель
• Измеритель параметров наземной имитации космической среды
• Измеритель вносимых и возвратных потерь
• Микро- нано- профилометр МНП
• Платформа управления комплексом и обработки данных (специальные компьютеры, блок управления
измерениями, специальные кабели измерения и соответствующее ПО)
• Спектроанализатор оптического излучения видимого диапазона
• Спектроанализатор оптического излучения ИК диапазона
• Система для измерения мощности импульсного и непрерывного оптического излучения
• Измеритель профиля пучка
• Измеритель светового потока
• Цифровой измеритель используемый для анализа электрических характеристик оптоэлектронных
устройств
• Стабилизированный оптический излучатель
• Измеритель параметров наземной имитации космической среды
• Измеритель вносимых и возвратных потерь
• Микро- нано- профилометр МНП
• Платформа управления комплексом и обработки данных (специальные компьютеры, блок управления
измерениями, специальные кабели измерения и соответствующее ПО)
НАУЧНОГО
ИНСТИТУТ
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ
КОНСТРУКТОРСКО-
СО РАН
ПРИБОРОСТРОЕНИЯ
КОНСТРУКТОРСКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
НАУЧНОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ
НАУЧНОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ
ВСЕ ПРАВА ЗАЩИЩЕНЫ © 1990 - 2021
Контакты:
Email: info@tdisie.nsc.ru
Телефон: 8-(383)-306-62-08
Email: info@tdisie.nsc.ru
Телефон: 8-(383)-306-62-08