"Профиль":
 
Оптико-электронная система для измерения поверхностных дефектов
НАЗНАЧЕНИЕ
Автоматические бесконтактние измерения глубины и профиля дефектов на поверхности оболочки тепловыделяющих элементов (ТВЭЛ) атомных электростанций.
ОСОБЕННОСТИ
Основан на использовании интерференции частично-когерентного света. При измерении производится автоматическое сканирование по глубине профиля поверхности, содержащей дефект. В результате сканирования получается набор изолиний профиля измеряемого участка поверхности. По этому набору изолиний рассчитывается профиль этого участка поверхности.
Применение прямого метода измерений, при котором регистрируются непосредственно координаты точек поверхности, позволяет обеспечить высокую точность и достоверность результатов.
ТЕХНИКО-ЭКОНОМИЧЕСКИЕ ПРЕИМУЩЕСТВА
• малое время измерения
• возможность получить:
   - общий вид дефекта в виде трехмерной модели
   - карту изолиний глубины
   - профиль выбранного сечения поверхности, по которому можно определить параметры измеренного 
     дефекта
• профиль измеренного дефекта записывается в базу данных для последующего анализа
ПАТЕНТНАЯ ЗАЩИТА
• Получен патент на способ измерения профиля поверхности №2258017.
• Система внесена в Госреестр в качестве средства измерения (№ 24403-03)
• Получен сертификат Госстандарта России (RU.C.27.007.A № 14245).
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Диапазон X x Y 2.3 мм x 2.3 мм
Разрешение по глубине 1 мкм
Погрешность измерения по глубине 5 мкм
Диапазон по глубине Z <10 мм
Время измерения <15 c (глубина 50 мкм)
НАУЧНОГО
ИНСТИТУТ
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ
КОНСТРУКТОРСКО-
СО РАН
ПРИБОРОСТРОЕНИЯ
КОНСТРУКТОРСКО-ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
НАУЧНОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ
ВСЕ ПРАВА ЗАЩИЩЕНЫ © 1990 - 2021
Контакты:
Email: info@tdisie.nsc.ru
Телефон: 8-(383)-306-62-08